ПунктДеталиРентгеновская трубкаМишень Mo / Rh / W / Ag (опция), 50 кВп, 1 мАСистема обнаруженияSi-Pin диод (опция: SDD, FSDD)Разрешение энергииSi-Pin диод: 149 эВ на полувысоте при Mn Kα / Опция: SDD (125 эВ), FSDD (122 эВ)КоллиматорКоллиматор 0,3 (опция: 0,05, 0,1, 0,2, 0,5, 1 мм) Капиллярная оптика 50 мкм Ручная / автоматическая смена ступени Элемент обнаруженияTi (22) ~ U (92)Тип образцаТвердое / жидкое / порошковое, многослойноеРазмер камеры для образцов660 мм X 450 мм X 150 мм / 500 мм X 450 мм X 150 мм Возможное расстояние перемещения предметного столика300 мм X 200 мм X 150 мм / 220 мм X 200 мм X 150 ммРазмер образца таблицы310 мм X 260 ммКлючевая особенностьАвтоматический / ручной режим сцены Измерение толщины покрытия: Общие, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев) Увеличение камеры40 ~ 80 хБезопасность3-точечная блокировкаТип отчетаExcel, PDF / вывод Пользовательская форма Ключевые преимуществаИзмерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев) Удобное управление сценой Возможно многоточечное измерение Скрининг RoHS (опция) Удаленная поддержка через Интернет заявкаПроверка продукции на соответствие международным экологическим нормам (Соответствует RoHS, WEEE, ELV) Опасные материалы (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Оборудование для сортировки Анализ покрытия автомобильных деталей, Электронная плата (PCB), например, конденсатор Анализ однослойного, многослойного, легированного покрытия Толщина с соотношением состава может быть измерена во времени в металлизации сплава
